本发明提供一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法，它有以下七个步骤：一、确定敏感参数；二、明确物理加速模型；三、确定保持失效机理不变的温度应力；四、开展加速寿命试验；五、试验数据预处理；六、估计物理模型中参数值；七、计算贮存应力下，塑封光耦的寿命。本发明构思新颖，程序简约，可计算贮存状态下塑封光耦的寿命，反应失效机理，可节约成本，解决传统寿命预测不能保证失效机理一致的问题，它在元器件贮存寿命评价领域有广阔的应用前景。