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专利名称拓扑绝缘磁电阻器件
申请日2017-11-07
申请号/专利号CN201711084840.0
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人赵巍胜;周家琦;王子路
公告日2019-12-06
公告号CN107910439B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明涉及拓扑绝缘磁电阻器件,其中一种核心结构自上而下为“第一铁磁金属层/拓扑绝缘体层/第二铁磁金属层”。第一铁磁金属层作为参考层,第二铁磁金属层作为自由层。当参考层与自由层的磁化方向平行时,磁电阻器件呈现低阻态,存储二进制中的“0”;当参考层与自由层的磁化方向反平行时,磁电阻器件呈现高阻态,存储二进制中的“1”;通过第一铁磁金属层的自旋极化流经由拓扑绝缘体的表面到达第二铁磁金属层,而不通过拓扑绝缘体内部。本发明的拓扑绝缘磁电阻器件,将产生拓扑绝缘磁阻效应,并产生高拓扑绝缘磁阻率,提高磁电阻器件的可靠性,同时降低器件功耗。
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