本发明涉及一种基于闭环控制原理的粒径分布测量方法，所用元件包括：可见光激光器、扩束镜、光阑、样品池、傅里叶透镜、环形光电探测器、数据采集卡和上位机。该方法包括以下步骤，首先，通过衍射式测量装置获得小角度衍射光分布；然后，以fk(x)表示第k次粒径分布重建结果，获取初值f0(x)和f1(x)；接着，基于闭环控制原理，以重建误差为控制对象，利用迭代公式重建粒径分布；最后，判断是否达到迭代终止条件，如果是，则停止迭代并输出重建结果，否则返回上一步的迭代公式。上述装置及方法可以抑制实际应用中获得的衍射光信息的有限性的影响，提高对粒径分布的分辨能力和重建精度，在粒径分布测量领域具有重要的实用价值和很好的应用前景。