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专利名称一种不均匀温度场的红外辐射能测试平台及测试方法
申请日2017-06-21
申请号/专利号CN201710474272.9
专利权人沈阳航空航天大学
申请人沈阳航空航天大学
发明人/设计人席剑辉;傅莉;王琦;胡为;陈新禹;关威;任艳;傅金鑫
公告日2020-01-14
公告号CN107271047B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种不均匀温度场的红外辐射能测试平台及测试方法,其中测试平台包括温度控制单元和目标模拟单元,温度控制单元包括单片机、A/D转换器、信号调理器和并行扩展接口,目标模拟单元包括铝板,以及铝板上的若干温度场,在每个所述的温度场内均设有加热片、热敏电阻传感器和场效应管,测试方法首先是对目标红外强度谱样本校正;然后进行红外强度谱建模,建模时采用K‑均值聚类均匀地确定RBF网络隐层神经元初始聚类中心及其数量,采用正交最小二乘方法进一步调整RBF网络聚类中心、数量,并计算输出层权值;最后对模型进行验证。
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