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专利名称光谱测量方法、装置
申请日2017-06-20
申请号/专利号CN201710467430.8
专利权人南京航空航天大学
申请人南京航空航天大学
发明人/设计人薛敏;朱贝贝;潘时龙;曹源
公告日2018-07-20
公告号CN107121193B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种光谱测量方法。该方法利用光频梳调制器将具有固定频率及相位的微波信号调制到由窄线宽光源输出的光信号上,生成具有N根梳齿的光频梳;对于所述光频梳的每一根梳齿,分别以其作为光载波,利用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法测量出待测光信号在该梳齿所对应频带内的频谱;将各梳齿所对应频带内的频谱组合,得到待测光信号的宽带频谱。本发明还公开了一种光谱测量装置。本发明利用光频梳通道化技术,产生多个连续频带的光载波,可在确保测量分辨率的前提下,大幅度扩展测量范围;本发明还进一步利用并行方式大幅提高测量效率,并利用+2阶光单边带扫频信号将单个通道的测量范围拓展一倍,进一步提升了测量带宽。
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