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专利名称一种加入极化栅的自由空间法介电常数测量系统及测量方法
申请日2017-04-26
申请号/专利号CN201710282959.2
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人白明;宇文丽;刘大伟;张博明
公告日2019-06-11
公告号CN107202942B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种加入极化栅的自由空间法介电常数测量系统及测量方法,属于电磁场与微波技术领域。本发明在现有的自由空间法测量系统的基础上,在贴近待测样品一侧加入极化栅网,通过测量网络的反射参数和透射参数随极化栅网的角度的变化曲线将透过栅网的电磁波与其他路径不变的电磁波区别开;而这个变化的信号携带待测样品的介电信息,因此由变化曲线中的幅度等系数来反演得到待测样品的介电常数。而在稳定环境中,网络参数随极化栅角度的变化对电磁环境并不敏感,因此实验环境中的电磁波绕射、衍射带来的影响得到有效降低。此外聚焦透镜天线采用一种有耗材料聚乳酸(PLA),有效降低了天线之间电磁波的多次反射,使实验结果更加精确。
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