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专利名称一种基于Sagnac干涉仪的集成光学波导中次波强度的测试方法
申请日2016-08-29
申请号/专利号CN201610756326.6
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人徐小斌;张智昊;吴春晓;金靖;宋镜明;潘雄
公告日2019-09-27
公告号CN106403923B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种基于Sagnac干涉仪的集成光学波导中次波强度的测试方法,属于光纤陀螺领域。所述测试方法中,信号发生器为集成光学波导施加光纤环本征频率2倍的方波调制加斜波调制,通过测量锁相放大器输出的峰峰值,计算集成光学波导中次波的强度。基于所述的测试方法的测试装置包括光源、耦合器、集成光学波导、光纤环、探测器、信号处理电路及采集计算机本发明采用光纤器件,测试装置搭建比较方便;测量精度高,能达到10‑10V数量级;无需破坏陀螺光路,可以在线检测;弥补现有技术对集成光学波导中的次波信号计算方法的缺失,提高Sagnac干涉仪的精度。
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