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专利名称一种模拟集成电路加速试验数据自动采集与分析评估系统
申请日2016-08-09
申请号/专利号CN201610648418.2
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人崔灿;黄姣英;高成;王斌;陈剑晟
公告日2018-12-18
公告号CN106443406B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种模拟集成电路加速试验数据自动采集与分析评估系统,它是由恒温干燥箱、模拟集成测试电路、系统控制机、多路选择开关和某型运算放大器组成;该模拟集成测试电路和系统控制机通过I2C总线连接,用于系统控制机和模拟集成测试电路的信号传输;多路选择开关和模拟集成测试电路通过14PIN插针连接,组成测试器件的测试电路;测试器件安装在多路选择开关上,放入恒温干燥箱进行加速试验;本发明可以灵活增加或减少运算放大器的个数,灵活选择是否采用多路选择开关和恒温干燥箱;可以在常温或加速试验的条件下进行运算放大器的参数测试;操作方便,运行稳定,能有效保护器件,提高了系统的可靠性和安全性。本发明能满足多种型号的集成运算。
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