本发明公开了一种基于双边带调制与受激布里渊散射效应的光器件频谱响应测量方法，将光源输出的光载波分成两路；此信号经过待测光器件后，扫频双边带信号与移频后的载波在光电探测器中拍频，可得到携带待测光器件在扫频双边带信号频率处的光谱响应信息的两个频率不同的射频信号；利用射频幅相提取模块分别提取所述两个射频信号的幅度相位信息，得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应；改变所述光探测信号的波长并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种基于双边带调制的光器件测量装置。相比现有技术，本发明大幅提高了测量范围和测量效率。