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专利名称一种基于性能退化的离子推力器小子样可靠性评估方法
申请日2016-03-22
申请号/专利号CN201610165279.8
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人李军星;王治华;张勇波;傅惠民
公告日2018-08-17
公告号CN105844095B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种基于性能退化的离子推力器小子样可靠性评估方法,包括以下步骤:一:对离子推力器的结构特点和关键失效模式进行分析,选取影响其寿命的关键性能参数;二:根据关键性能参数y随时间的退化规律,建立离子推力器小子样性能退化模型;三:确定离子推力器平均失效时间tMTTF和可靠度函数R(t);四:对第i台离子推力器,记录在时间tij时的测试性能退化值yij,i=1,2,...,m,j=1,2,...,ni,m为投入试验的离子推力器台数,ni为第i台离子推力器性能测试的总次数;五:估计性能退化模型中的未知参数;六:利用可靠度函数对离子推力器进行小子样可靠性评估。本发明开发利用不同时刻性能测试数据间的纵向信息,使信息量大幅增加。提高分析精度,同时在精度相同的情况下,则可节省大量试样。
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