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专利名称一种测量光子带隙光纤陀螺背向次波相干误差的装置及方法
申请日2016-01-04
申请号/专利号CN201610003856.3
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人徐小斌;张智昊;高福宇;宋凝芳;金靖;宋镜明
公告日2017-03-15
公告号CN105466457B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种测量光子带隙光纤陀螺背向次波相干误差的装置及方法,属于光纤陀螺技术领域。所述装置在所述集成光学波导的两个输出端分别耦合普通光纤,对应的两个普通光纤尾纤A和普通光纤尾纤B分别在熔点A和熔点B熔接光子带隙光纤A和光子带隙光纤B,在熔点A、熔点B分别产生菲涅尔背向反射波WA和WB,在普通光纤尾纤A和光子带隙光纤B中散射点B1和A1会产生背向散射波WA1和WB1;在状态一通过锁相放大器相干解调得到WB和WB1的背向次波强度IBCS?B,在状态二得到WB、WB1、WA、WA1的背向次波强度之和;在次波误差最大时,计算得到陀螺的偏置误差。本发明采用相干检测的方法,测量精度高;实验装置简单,易于实现。
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