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专利名称一种非接触式非连续平面平面度测量系统
申请日2015-11-30
申请号/专利号CN201510855857.6
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人赵慧洁;李旭东;范博
公告日2020-01-03
公告号CN106813600B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种非接触式非连续平面平面度测量系统。测量系统包括激光发射装置、激光位移传感器、位置敏感器和计算机组成。该测量装置可在加工现场,与加工设备结合,对各种大尺寸、非连续平面的平面度进行高精度非接触式在线测量。一种非接触式非连续平面平面度测量系统。使用激光位移传感器和位置敏感器组合测量待测点高度(z),结合加工设备测量待测点平面坐标(x,y),然后进行数据处理得到平面度值。本发明具有非接触、测量范围大、能适应各种材质的表面等特点,可用于各种不同大小、不同材质的非连续表面的平面度测量;测量过程由计算机控制自动完成,可实现自动测量,提高了测量速度。
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