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专利名称一种考虑制造质量偏差数据的产品早期故障率估算方法
申请日2015-08-07
申请号/专利号CN201510483768.3
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人何益海;王林波;何珍珍;谷长超
公告日2018-06-26
公告号CN105160074B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种考虑制造质量偏差数据的产品早期故障率估算方法,它有八大步骤:一.构建三层级质量偏差表达模型;二.量化考虑了零件含非致命性缺陷的被制造产品的固有可靠度水平;三.建立零件级质量偏差相关的可靠度函数;四.量化考虑了层级间正相关关系的含不合格组件的产品固有可靠度水平;五.建立组件级质量偏差相关的可靠度函数;六.量化考虑了层级间正相关关系的含装配误差的产品固有可靠度水平;七.建立系统级质量偏差相关的可靠度函数;八.集成化构建考虑偏差综合效应的产品早期故障率变化综合模型。本发明充分重视形成缺陷和故障的制造阶段,量化制造质量偏差对早期故障率的影响,使在制造过程从根源上预防和控制早期故障率成为可能。
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