本发明属于可靠性及寿命试验中的加速贮存试验方法领域，具体涉及一种电子整机加速贮存试验方法。技术方案：本发明结合电子产品全寿命周期剖面综合分析，考虑了运输、温度、湿度等应力的影响，制定了等效自然贮存一年的综合应力加速贮存试验剖面，包括接装运输、库房贮存、野外工作、年度测试共四个过程，在该剖面下进行加速贮存试验，根据完成的试验时间，验证产品贮存寿命。有益效果：本方法适用于航空航天和车载电子产品中的控制系统类产品、测量类产品以及其它类型电子产品。该剖面覆盖了产品寿命期内规定的库房贮存和野外工作环境条件，可以在较短的时间内验证产品贮存寿命，并激发贮存薄弱环节，为产品研制及定型提供数据支撑。