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专利名称适用于过采样SAR ADC的电容失配误差整形开关电路及方法
申请日2019-09-29
申请号/专利号CN201910932843.8
专利权人东南大学
申请人东南大学
发明人/设计人吴建辉;王鹏;李红
公告日2020-01-31
公告号CN110739968A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提出了一种适用于过采样SARADC的电容失配误差整形开关电路及方法,属于模数混合集成电路技术领域。本发明通过反馈回前两次的低位(LSB)的量化结果以及电容失配误差,可以实现对电容失配误差的二阶整形。相比于传统的开关算法,需要额外引入一个参考电压,并将LSB电容值变为原来的三倍。本发明的逻辑简单,电路开销少,易于实现,并且电容失配误差的整形效果优良,适合高精度的应用场合。
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