本实用新型提供了一种DAC和ADC实验测试板及测试装置，解决了目前的DAC和ADC实验测试板功能简单，侧重应用集成，没有功能及性能参数的相关测试，不利于学习和对芯片的选用的问题。本实用新型包括ADC待测单元、模拟量输入端和数字量输出端，所述ADC待测单元分别与模拟量输入端、数字量输出端连接，所述模拟量输入端连接模拟量调节输出模块，所述模拟量调节输出模块包括多组电位器，用于分段电压的设置。本实用新型具有测试ADC和DAC性能和参数方便、准确、便于学习芯片等优点。