本公开涉及集成电路。该集成电路包括：锁相环，包括被配置为由控制信号的电压控制的振荡器；相位比较器，被配置为接收参考信号和源自所述振荡器的输出信号的反馈信号；检测器，被配置为检测所述反馈信号上的转变的缺失达第一持续时间；以及控制器，被配置为响应于所述反馈信号上的所述转变的缺失迫使所述控制信号的所述电压降低，至少直至所述反馈信号上的转变的重新出现。