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专利名称ADC中采样器和放大器非线性的背景校准
申请日2019-01-31
申请号/专利号CN201910098128.9
专利权人美国亚德诺半导体公司
申请人美国亚德诺半导体公司
发明人/设计人A·M·A·阿里;P·古拉蒂
公告日2019-08-16
公告号CN110138385A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本公开涉及ADC中采样器和放大器非线性的背景校准。模拟电路通常是非线性的,并且非线性会损害性能。设计人员将权衡功耗以实现更好的线性度。高效且有效的校准技术可以解决非线性问题并降低整体功耗。注入模拟电路的抖动信号可用于暴露数字域中的非线性行为。为了检测非线性,应用计数方法来隔离与输入分布无关的非线性。该方法在许多方面优于其他方法并且与其他方法不同。
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