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专利名称一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法
申请日2019-01-28
申请号/专利号CN201910079853.1
专利权人芯海科技(深圳)股份有限公司
申请人芯海科技(深圳)股份有限公司
发明人/设计人李高祥
公告日2019-05-31
公告号CN109831207A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明适用SDADC与SARADC测试技术领域,提供了一种集成SARADC与SDADC的多站点测试方法,该方法包括:Python通过串口对多个待测芯片的寄存器进行配置,并初始化SARADC和SDADC;测量SDADC时,Python通过串口发送指令给主控芯片配置不同的电压采集芯片,并分别对应采集多个待测芯片的基准电压;测试SAR‑ADC时,Python通过串口配置多个待测芯片的寄存器,并将多个待测芯片的基准电压均配置为V1;通过该测试方法能够方便、快捷、灵活的测试SARADC与SDADC,且待测的芯片数量可以灵活扩展,且测量数据自动记录,分析并保存,以提高工作效率高。
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