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专利名称一种利用衬底偏压反馈增强STT‑MRAM读可靠性的电路
申请日2015-04-20
申请号/专利号CN201510188059.2
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人杨伦;吴比;成元庆;郭玮;赵巍胜;张有光
公告日2017-08-25
公告号CN104766623B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种利用衬底偏压反馈增强STT‑MRAM读可靠性的电路,由读取电路单元、1T‑1MTJ存储单元、参考单元和读取放大器单元组成;该参考单元由两个并联的‘0’状态和‘1’状态的存储单元构成,信号VG‑access控制1T‑1MTJ存储单元选通的字线信号;该读取电路单元包括两个部分,第一部分为电压钳制电路,用于保持数据支路和参考读取支路的读取电压基本相同;第二部分为负载电路,用于将读取电流转化为读取电压,读取电压和参考电压进入二级读取放大器,将读取信号进一步放大。本发明通过采用衬底偏压正反馈的方法,调节读取电路中负载晶体管的衬底偏压,增大读取电压和参考电压之间的差值,从而增大读取裕量,提高读可靠性。
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