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专利名称一种通过缓冲层调控的多比特单元磁存储器件
申请日2015-02-13
申请号/专利号CN201510079744.1
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人王梦醒;赵巍胜;郭玮;史前;张有光
公告日2017-08-08
公告号CN104701453B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种通过缓冲层调控的多比特单元磁存储器件,它是形成多个截面尺寸相同的磁隧道结层叠,通过调节缓冲层的材料、厚度,改变其中一个磁隧道结的性能参数,从而产生实现多比特单元磁存储器件的多组电阻状态;该多比特单元磁存储器件由基于垂直磁各向异性的两个磁隧道结串联而成,各个磁隧道结包含参考层、势垒层和自由层;其中,参考层的磁化方向固定,自由层的磁化方向根据注入电流的大小及方向在两种状态之间转换,即自旋转移力矩效应;当两个磁化方向相同时,磁隧道结呈现低电阻状态,表示数据“0”;当参考层与自由层的磁化方向相反时,磁隧道结呈现高电阻状态,表示数据“1”。本发明在非易失性磁存储器技术领域里具有十用价值。
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