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专利名称一种可控应力条件下的硅钢片二维磁特性测量系统及其测量方法
申请日2015-01-06
申请号/专利号CN201510005120.5
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人丁晓峰;熊彦文;肖力豪;郭宏
公告日2018-01-05
公告号CN104569875B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

一种可控应力条件下的硅钢片二维磁特性测量系统,它包括硅钢片二维磁特性测试仪、加力执行装置、数据采集与控制系统、功率放大器和信号处理系统及控制计算机;控制计算机与数据采集与控制系统的数据采集卡连接,数据采集卡信号输出端依次通过两路功率放大器,隔离变压器分别与硅钢片二维磁特性测试仪的输入端连接,硅钢片二维磁特性测试仪又分别先连接两组B、H传感器线圈再通过多通道差分放大电路连入数据采集卡中,同时数据采集卡信号输出端还通过传动控制器与伺服电机及加力执行装置的部件连接,硅钢片立方体样品表面的压力传感器又与数据采集卡的输入端连接;其测量方法有六大步骤。本发明实现了在可控应力条件下的硅钢片二维磁特性测量。
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