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专利名称高温超导块材表层临界电流密度不均匀性测量方法及装置
申请日2014-12-24
申请号/专利号CN201410815549.6
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人王三胜;贺同福
公告日2017-04-12
公告号CN104483530B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种高温超导块材表层临界电流密度不均匀性测量方法及装置,属于磁测量技术领域。所述测量装置包括励磁线圈、次级线圈、线圈支架、待测样品平台、锁相放大器、功率放大器、精密电阻和阻抗调节电阻;所述的测量方法首先使待测样品平台、励磁线圈、次级线圈和待测高温超导样品在无磁场状态下完全冷却;然后在每个锁相放大器的输出电压下,通过计算分别得到励磁电流峰值和次级线圈内三次谐波电压峰值;计算待测高温超导样品在某激励磁场强度下的临界电流密度值和穿透深度,并绘制曲线。本发明可以用于测量高温超导块材表层临界电流密度的不均匀性,测量误差范围为10%;可以实现电压信号的测量,其测量精度高达1nV。
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