本发明公开一种基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置，包括微波源、微波功分器、微波移相器、沿光路方向依次连接的激光源、第一电光调制器、光纤、第二电光调制器、光带通滤波器、光电探测器、电低通滤波器和FFT分析仪；微波源产生的待测微波信号由微波功分器分成两路，一路信号经第一电光调制器调制生成初始调制光信号；另一路信号经过微波移相器后进入第二电光调制器对光纤延时后的初始调制光信号进行调制，所得到的最终的调制光信号依次通过光带通滤波器、光电探测器、低通电滤波器；低通电滤波器输出信号由FFT分析仪采集，计算得到待测微波信号的相位噪声。本发明具有工作带宽大、测试灵敏度高且不随频率变化等优点。