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专利名称半导体装置以及其制造方法
申请日2018-01-31
申请号/专利号CN201880011285.5
专利权人株式会社半导体能源研究所
申请人株式会社半导体能源研究所
发明人/设计人山崎舜平;远藤佑太;笹川慎也;长塚修平
公告日2020-01-17
公告号CN110709998A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

提供一种适合于微型化及高集成化的半导体装置。本发明的一个实施方式包括:含有相邻的第一区域和第二区域、其间设置有第一区域及第二区域的第三区域和第四区域的第一氧化物;第一区域上的第二氧化物;第二氧化物上的第一绝缘体;第一绝缘体上的第一导电体;在第二氧化物上并在第一绝缘体及第一导电体的侧面的第二绝缘体;在第二区域上并在第二绝缘体的侧面的第三绝缘体;以及隔着第三绝缘体在第二区域上的第二导电体。第三绝缘体的一部分位于第二导电体和第二绝缘体的侧面之间。
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