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专利名称一种复位测试电路
申请日2018-01-25
申请号/专利号CN201820125447.5
专利权人厦门博晶光电技术有限公司
申请人厦门博晶光电技术有限公司
发明人/设计人刘文涛
公告日2018-09-18
公告号CN207882397U
法律状态有效
专利类型实用新型
行业分类

摘要

本实用新型涉及一种复位测试电路,包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1;所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接,第一左端动触点通过电阻R3连接到地,第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极,所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚;所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地,所述电子连接器P1的3号引脚连接到地;所述双刀双掷开关S1的第二左端动触点和第二右端动触点连接到电源;本实用新型的复位测试电路实现一个工位就能满足待测模块复位和测试要求,提升效率、降低成本。
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