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专利名称半导体装置
申请日2018-01-19
申请号/专利号CN201810052156.2
专利权人株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请人株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
发明人/设计人山岸俊之;堀口智哉
公告日2018-10-09
公告号CN108631765A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

实施方式的半导体装置具备第1以及第2耦合器部、编码电路、以及解调电路。编码电路基于经由第1耦合器部输入的时钟将数字数据进行差分曼彻斯特编码而输出编码数据。解调电路包含:第1采样电路,基于被设定为经由第2耦合器部输入的编码数据的频率的2倍的采样频率,将编码数据采样而输出第1样本数据;第2采样电路,将比第1采样电路在时间上靠前的定时的编码数据采样而输出第2样本数据;判定电路,判定第1以及第2样本数据是否一致;以及选择电路,从第1样本数据之中选择第1以及第2相位数据中的某一方。
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