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专利名称一种循环冗余校验方法、设备及存储介质
申请日2017-12-29
申请号/专利号CN201711472801.8
专利权人北京自动测试技术研究所
申请人北京自动测试技术研究所
发明人/设计人高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰;阎伟
公告日2018-06-29
公告号CN108233944A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中,该循环冗余校验方法包括如下步骤:将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列;分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验,得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi,将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列;对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验,得出数据序列Pi的校验码;计数器的数值逐一增加,重复上述步骤,直至所有传输的数据序列全部校验完成,得到所有数据序列的校验码。该方法避免了传统CRC32异或运算的信息丢失,在不增加资源消耗的基础上,提高了校验的准确性。
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