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专利名称存储器的高可靠性错误检测方法、读取控制方法及装置
申请日2017-12-22
申请号/专利号CN201711406432.2
专利权人联芸科技(杭州)有限公司
申请人联芸科技(杭州)有限公司
发明人/设计人吴昭逸;乔斌;贲伟建;张志;张明;金烨;邱禹;肖自铧
公告日2018-06-12
公告号CN108154902A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本申请公开了存储器的高可靠性错误检测方法、读取控制方法及装置。该方法包括:在所述存储器的存储单元上施加预定的检测电压,所述检测电压为默认电压与偏置电压之和;获得所述存储单元的电压电平;将所述存储单元的电压电平与参考电压相比较以获得存储数据;以及采用第一LLR,对所述存储数据进行LDPC的第一软判决译码,其中,所述方法还包括采用LDPC的硬判决译码进行高可靠性错误检测,以及在判定发生高可靠性错误时,采用第二LLR,对所述存储数据进行LDPC的第二软判决译码。该方法提供新的高可靠性错误检测方法,并且在发生高可靠性错误时采用LLR的重新分配降低对软判决纠错能力造成的伤害。
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