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专利名称一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法
申请日2017-12-12
申请号/专利号CN201711322494.5
专利权人晶晨半导体(上海)股份有限公司
申请人晶晨半导体(上海)股份有限公司
发明人/设计人冯杰;张坤
公告日2018-05-15
公告号CN108039886A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明提供一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法,包括:中央处理器向晶体电路输出震荡激励信号;晶体电路根据震荡激励信号产生一时钟信号;内部环路通过设置在中央处理器上的一输出端口输出时钟信号;采用一频率计,频率计连接输出端口,频率计接收时钟信号并对时钟信号进行测试以得到测试结果,测试者根据测试结果判断时钟信号的偏差是否合格:若判断结果为是,随后退出;若判断结果为否,则测试者对晶体电路进行调节,随后转步骤S4。本发明的有益效果:通过CPU内部环路,把CPU的时钟信号在输出端口输出,再用频率计来对时钟进行测量,不会受到探头的影响,测量更加准确。
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