本发明公开了一种基于双边带调制的光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。首先利用光双边带调制方法将射频信号调制于第一光载波信号上，生成双边带调制信号；然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束，所述第二光载波信号与第一光载波信号之间存在频率差；利用光电探测器对合束后的信号进行拍频，然后提取拍频信号中+1阶边带信号及?1阶边带信号的幅度信息；扫描所述射频信号的频率，即得到待测光器件的宽带幅频响应。本发明还公开了一种基于双边带调制的光器件测量装置。本发明在降低系统复杂度和成本的同时，大幅提高了测量范围和测量效率，更重要地是为光器件测量技术开辟了一个全新的方向。