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专利名称玻璃基板重测重修系统及其方法
申请日2019-03-07
申请号/专利号CN201910172630.X
专利权人深圳市华星光电技术有限公司
申请人深圳市华星光电技术有限公司
发明人/设计人何人杰;郑佩莎
公告日2019-05-24
公告号CN109799630A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

一种玻璃基板重测重修系统及其方法,其中所述玻璃基板重测重修系统包括电性量测站、镭射修补机、镭射长线机、分出重测站及重测电性量测站。电性量测站电性量测所述玻璃基板的各所述面板是否存在缺陷。所述镭射修补机对具有所述缺陷的所述面板标识异常等级,并分流其余具有所述异常等级的所述玻璃基板。所述镭射长线机对具有所述异常等级的所述面板进行修补。所述分出重测站分流正常和异常的所述玻璃基板。所述重测电性量测站针对异常的所述玻璃基板进行识别。当所述面板具有异常等级时,对所述异常等级的所述面板进行重测,并根据缺陷种类分流到所述镭射修补机或所述镭射长线机进行重修,从而降低重测重修带来的产能和时间成本的损失。
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