一种基于相位比较的电光强度调制器啁啾参数测试方法，旨在于提供一种能够满足宽频带，高精度的电光调制器啁啾参数测试的需求，同时避免了实验中对电光探测器校准问题，并利用移频外差结构实现电光调制器啁啾参数的低频测试方法，避免了使用高频带宽的光电探测器。光载波输入到移频外差结构一分为二，上臂的光载波通过待测电光调制器调制，下臂的光载波进行移频及辅助相位调制器调制，两路光信号经过光电探测器拍频转化为电信号，并通过固定电滤波器滤出特定频率的电信号，最后通过示波器得到电信号的时域波形；通过两次调节待测电光强度调制器的偏置电压，观测特定频率的电信号的相位差，计算该相位差获得电光强度调制器的啁啾参数；改变加载在待测调制器上的射频信号频率，重复上述过程，可测得待测电光强度调制器在不同调制频率的啁啾参数。