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专利名称一种用于波谱寻址测调的FP波谱结构
申请日2019-01-24
申请号/专利号CN201920115337.5
专利权人南京奥谱依电子科技有限公司
申请人南京奥谱依电子科技有限公司
发明人/设计人张新宇;张汤安苏
公告日2019-10-08
公告号CN209471040U
法律状态有效
专利类型实用新型
行业分类

摘要

本实用新型公开了一种用于波谱寻址测调的FP波谱结构用于显微成像测量,包括从上至下依次平行设置的第一增透膜、第一基片、图案电极、第一液晶定向层、液晶层、第二液晶定向层、公共电极、第二基片、以及第二增透膜,图案电极和公共电极彼此同心设置,且二者同时用作高反射膜,其均是由金属材料制成;图案电极包括多个以对称方式排列的矩形子电极,各个矩形子电极之间是电绝缘的;各个矩形子电极通过各自的电连接线从图案电极引出,并与从公共电极引出的电连接线一起,分别连接到各个外部控制信号的两端。本实用新型具有谱显微成像效能高、目标和光场适应性好、体积和质量小、易与其它光学光电机械结构耦合的优点。
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