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专利名称一种坏像元的校正方法
申请日2014-01-16
申请号/专利号CN201410020210.7
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人袁艳;苏丽娟;操俊
公告日2015-11-04
公告号CN103728022B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开了一种时空联合调制型干涉成像光谱仪数据坏像元的校正方法,包括步骤一:获得时空联合调制型干涉成像光谱仪中所有坏像元的位置。步骤二:通过时空联合调制型干涉成像光谱仪获取包含感兴趣目标地物点的图像。步骤三:通过数据处理,生成一个数据立方体。步骤四:确定坏点位置。步骤五:获取感兴趣目标地物所在区域的数据立方体数据,并对坏像元位置进行插值校正。步骤六:复原得到感兴趣目标地物点的光谱。本发明将时空联合调制型干涉成像光谱仪的数据整合成三维的数据立方体,充分利用两个空间维和一个光谱维数据,提高坏像元的插值精度,减弱提取的感兴趣目标点的干涉数据失真。
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