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专利名称高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法
申请日2013-12-24
申请号/专利号CN201310721986.7
专利权人哈尔滨工业大学
申请人哈尔滨工业大学
发明人/设计人齐宏;牛春洋;孙双成;郑献之;阮立明;姜宝成
公告日2015-11-11
公告号CN103674888B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法,属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量,继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数,最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法,可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
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